影響漆膜厚度測試儀測量值的因素與解決方法

　　使用漆膜厚度測試儀與使用其他儀器一樣，既要掌握儀器性能，也需了解測試條件。使用磁性原理和渦流原理的覆層漆膜厚度測試儀都是基于被測基體的電、磁特性及與探頭的距離來測量覆層厚度的，所以，被測基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測量值的可靠性，下面小編就這方面的問題作一下介紹。
　　1.邊界間距
　　如果探頭與被測體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距，由于磁通或渦流載體截面不夠?qū)?dǎo)致測量誤差。如須測量該點(diǎn)的覆層厚度，只有預(yù)先在相同條件的無覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn)，才能用漆膜厚度測試儀測量。
　　2.基體表面曲率
　　在一個(gè)平直的對比試樣上校準(zhǔn)好一個(gè)初始值，然后在測量覆層厚度后減去這個(gè)初始值。或參照下條。
　　3.基體金屬的厚度
　　基體金屬須有一個(gè)給定的厚度，使探頭的電磁場能完全包容在基體金屬中，厚度與測量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關(guān)，在這個(gè)厚度之上剛好可以用漆膜厚度測試儀進(jìn)行測量而不用對測量值修正。對于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響，可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷，或無法加基材則可以通過與已知覆層厚度的試樣進(jìn)行對比來確定與額定值的差值。而那些可以標(biāo)定的儀器通過調(diào)整旋鈕或按鍵，便可以得到準(zhǔn)確的直讀厚度值。
　　反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測銅箔厚度的漆膜厚度測試儀，如前所述。
　　4.表面粗糙度和表面清潔度
　　在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測量值須用漆膜厚度測試儀進(jìn)行多次測量才行。顯而易見，不論是基體或是覆層，越粗糙，測量值越不可靠。為獲得可靠的數(shù)據(jù)，基體的平均粗糙度Ra應(yīng)小于覆層厚度的5％。而對于表面雜質(zhì)，則應(yīng)予去除。有的儀表上下限，以剔除那些“飛點(diǎn)”。
　　5.探頭測量板的作用力
　　探頭測量時(shí)的作用力應(yīng)是恒定的。并應(yīng)盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變，以致測量值下降。活產(chǎn)生大的波動(dòng)，必要時(shí)，可在兩者之間墊一層硬的，不導(dǎo)電的，具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過減去薄膜厚度就能適當(dāng)?shù)氐玫绞４拧?br /> 　　6.外界恒磁場、電磁場和基體剩磁
　　應(yīng)該避免在有干擾作用的外界磁場附近進(jìn)行測量。殘存的剩磁，根據(jù)漆膜厚度測試儀的性能可能導(dǎo)致或多或少的測量誤差，但是如結(jié)構(gòu)鋼，深沖成形鋼板等一般不會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象。
　　7.覆層材料中的鐵磁成份和導(dǎo)電成份
　　覆層中存在某些鐵磁成分，如某種顏料時(shí)，會(huì)對測量值產(chǎn)生影響，在這種情況下，對用作校準(zhǔn)的對比試樣覆層應(yīng)具有與被測物覆層相同的電磁特性，經(jīng)校準(zhǔn)后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上，用電渦流法測試后獲得對比標(biāo)準(zhǔn)。
　　以上就是影響漆膜厚度測試儀測量值的因素及對應(yīng)的解決辦法，到這里小編的分享就結(jié)束了，通過這篇文章，不知道大家是否對漆膜厚度測試儀有了更深入的了解，若大家還有其它問題，歡迎隨時(shí)聯(lián)系我們進(jìn)行解答。
　　小編：brianna